LED交通信号灯可靠度试验
许多人每天都会通过斑马线红绿灯,看着可爱的小绿人或提醒我们要在时间内通过马路,这项设施可是台湾人发明的,而且也是获得国际赞赏的设计,甚至还有日本的综艺节目特别介绍过。小绿人的走动速度共有两段,红灯-小红人则固定不动,绿灯-小绿人显示开始行走的LED图示并有倒数计时提醒剩馀秒数,由于全年都放置于户外风吹雨打,所以其严苛的可靠度试验条件项目包含了:电压电动、失效保护、电磁杂讯、防层防水、高温试验、振动试验、盐雾试验、绝缘耐压电压、绝缘电阻试验...等。
试验项目:电压电动、失效保护、电磁杂讯、防尘防水、高温试验、振动试验
注意事项: LED交通号志灯在其他试验前,都需经过乾热试验后才可以进行其他试验
灯面试验: 乾热试验:60℃/24小时/施加电压
失效判定:不得变形、松扣、脱落
耐温度试验:70℃(16小时)→-15℃(16小时)→R.T.、RAMP:≦1℃/min、2cycle、送电
耐温湿试验:40℃→RAMP:≦1℃/min→40℃/95%(24小时)、通电
连续开关动作: 40℃/60~80%、ON(1sec)←→OFF(1sec)、10000次
电压电动:80~135V(AC)、170~270V(AC)
失效判定:光强度飘移≦20%(以110V、220V时的光强度当基准)
LED灯IP54防尘防水等级检测报告测试项目及方法
防尘试验,表示不能完全防止尘埃进入,但进入的灰尘量不得影响灯具的正常运行,不得影响安全;
灯具IP5X试验方法:将灯具放置于沙尘箱中,开盖检查产品内部无灰尘进入,若有些许不影响产品性能也能判定负荷标准要求;
防溅水试验,表示防止各方向飞溅而来的水进入灯具造成损害;
灯具IPX4试验方法:向灯具外壳各方向溅水,各垂直面在180度范围内淋雨,水流量10L/min,试验时间10min。
绝缘电阻试验
绝缘电阻:500V
失效判定:不得低于2MΩ
绝缘耐压电压试验:1000V/60Hz/1min(绝缘电阻试验后进行)
灯箱试验
高温试验:130℃/1小时
失效判定:不得变形、松扣、脱落、龟裂..等
振动试验:XYZ三向、各12min共36min、10~35~10Hz正弦波、每週期3min、全振福2mm
失效判定:不得变形、松扣、脱落、龟裂,且LED灯面可正常点灯运转
风洞试验:风速16级(51.5~56.4m/s)、正向(0度)与侧向(45度)、各吹2小时
失效判定:不得变形、松扣、脱落、龟裂
盐雾试验:96小时
失效判定:10,000mm^2面积上绣点数少于8个,LED号志灯面绝缘电阻>2MΩ,耐压1000V/1min,无异常
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高低温低气压试验箱
是模拟高海拔、高空条件下,在低气压、高温、低温单项或同时作用,适用于国防工业,航天工业自动化零组件,汽车部件,电池,平面显示屏模组工业及相关产品料进行高温、低温,高度(不高于海拔30000米或45000米)以及高低温循环试验、温度及高度综合试验,高、低温试验时本试验箱可用于散热试验样品和非散热试验样品的试验。
GB 150-1998 钢制压力容器
GB 50054 低压配电设计规范
GB 50316-2008 工业金属管道设计规范
GB/T 3164-2007 真空技术系统图用图形符号
GB/T 6070-2007 真空法兰
GJB 1027A 运载器、上面级和航天器试验要求
GJB 1033 卫星热平衡试验方法
QJ 1446A 卫星热平衡试验方法
QJ 2630.1 卫星组件空间环境试验方法-热真空试验
QJ 2630.2 卫星组件空间环境试验方法-热平衡试验
QJ 2630.3 卫星组件空间环境试验方法-真空放电试验¥ 0.00立即购买
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三综合试验箱
是模拟高温、低温、高低温循环以及恒定湿热和交变湿热试验,同时在与振动台配接后,可以实现温度、湿度、振动三因素的综合试验的仪器设备。一般适用于航天、航空、石油、化工、电子、通讯等科研及生产单位测试产品、材料在运输和实际使用过程中对温湿度及振动复合环境变化的适应性,暴露产品的缺陷,是新产品研制、样机试验、产品合格鉴定试验全过程必不可少的重要试验手段。¥ 0.00立即购买
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紫外线老化试验箱
模拟阳光的光波照射,用冷凝和水喷淋的方法模拟露水和雨水的气候,真实地再现由户不同气候如太阳光照、下雨喷水、高湿冷凝的露珠等综合气候影响导致造成的材料老化或者损坏;广泛应用于油漆、涂料、户外彩色广告、油墨、染料、纺织品、汽车内外饰件、塑料、印刷包装等行业。¥ 0.00立即购买
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PCT老化试验箱
主要是测试产品在高温、高温高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验,主要用于对电工、电子产品,元器件、部件、金属材料及其材料在模拟高温、高温高湿及压力的气候条件下,对产品的物理以及其它相关性能进行测试,测试后,通过检定来判断产品的性能是否能够达到要求,以便供产品的设计、改进、检定及出厂检验使用。密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验。
可满足GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等规范要求,3种控制模式包含:不饱和控制(乾湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。¥ 0.00立即购买
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HAST试验箱
用于评估非气密性封装IC器件(固态设备)在高温高湿条件下的运行可靠性,对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压(不偏压)高加速应力寿命老化试验。
可满足GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等规范要求,3种控制模式包含:不饱和控制(乾湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。¥ 0.00立即购买
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冷热冲击试验箱
有三个试验空间,分为蓄热区、蓄冷区、测试区,也称静止式冷热冲击试验箱,试样放在测试箱内进行高低温循环冲击试验,模拟产品经过温度的急剧变化造成的物理变化。
适用于考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该冷热冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。¥ 0.00立即购买
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快速温变试验箱
是产品在设计强度极限下,运用温度加速技巧(在上、下限极值温度内进行循环时,产品产生交替膨胀和收缩)改变外在环境应力,使产品中产生热应力和应变,透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现[潜在零件材料瑕疵、製程瑕疵、工艺瑕疵],以避免该产品于使用过程中,受到环境应力的考验时而导致失效,造成不必要的损失,对于提高产品出货良率与降低返修次数有显着的效果,另外应力筛本身是一种製程阶段的过程,而不是一种可靠度试验,所以应力筛选是100%对产品进行的程序。
我司开发了多种系列快速温变试验箱,不仅提供225L、408L、1000L标准容积的试验箱,同时也可以根据客户需求定制任意容积的快速温变试验箱,并可选配液氮、湿热、防凝露等功能。¥ 0.00立即购买
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小型高低温试验箱
根据客户实验室空间小且测试产品小型而研制的一款设备,其功能性强大,可控范围(低温-40/-60度到高温150度);用于对客户试验产品进行高低温循环,高低温老化,高低温交变试验,评估产品在高温低温环境下的承受能力或物理反应;因小型,较合适研发部门,大学高校科研室,办公楼区,写字楼等场所选购。¥ 0.00立即购买
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