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随着IC·电子元器件HAST试验输入信号及每次试验数量增加，布线数量也不断增加。无法高效满足大量试验样品逐一布线，为此推出DUT板测试。
D（纵深）最大可扩大至1050mm的设备。对应大型DUT板的同时，可缩短准备时间并提高测试效率。
